Robuste, multi-cibles avec beaucoup de ressources de tests, Temfox est l'équipement adapté pour les applications militaires, aéronautique, médicales et spatiales.
Débogage de cartes électroniques, déverminage, tests de production, test de réparation.

TemFox Series II est un équipement de test modulaire conçu pour le test de cartes électroniques. Entièrement équipée avec des contrôleurs JTAG et JTAG émulation, des alimentations et jusqu’à 600 IO numériques, ce banc permet d'exécuter des tests d'ingénierie en mode structurel et fonctionnel, des tests de production et de réparation.

Tests JTAG Structurel

1. Composants BS
2. Interconnexions
3. Clusters
4. Mémoires
5. Connecteurs

Tests JTAG fonctionnels

1. Processeurs
2. FPGA
3. Ethernet
4. USB
5. Mémoires DDR2 /3/4
6. Horloge
7. Bus

Programmation

1. Programmation rapide des Flash
2. NAND Flash
3. Flash NOR
4. FPGA

Débogage

1. identification des défauts au niveau de la broche et du net
2. Débogage au niveau des registres BS
3. Débogage fonctionnel étape par étape

JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués

1. Réutilisable
2. Modulaire
3. Portable
4. Multi-cibles
5. Configuration rapide
6. Piloté par logiciel Diatem

Ingénieurs de développement, ingénieurs de test;

Vous pouvez remplir le formulaire de contact en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.

TemFox Series II Ruggedized Edition possède les mêmes ressources et fonctionnalités que l'édition standard, mais il a été personnalisé avec une protection thermique afin d'effectuer des tests en température.

Test et déverminage des cartes électroniques en atmosphère ambiante ou dans une enceinte climatique avec des cycles à chaud ou à froid.

Tests JTAG Structurel

1. Composants BS
2. Interconnexions
3. Clusters
4. Mémoires
5. Connecteurs

Tests JTAG fonctionnels

1. Processeurs
2. FPGA
3. Ethernet
4. USB
5. Mémoires DDR2 /3/4
6. Horloge
7. Bus

Programmation

1. Programmation rapide des Flash
2. NAND Flash
3. Flash NOR
4. FPGA

Débogage

1. 1. identification des défauts au niveau de la broche et du net
   2. Débogage au niveau des registres BS
   3. Débogage fonctionnel étape par étape

JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués

1. 1. 1. Réutilisable
      2. Modulaire
      3. Portable
      4. Multi-cibles
      5. Configuration rapide
      6. Possibilité de tests en température
      7. Piloté par logiciel Diatem

Ingénieurs de développement, ingénieurs de test.

Vous pouvez remplir le formulaire de contact en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante :sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.