Utilisation de la puissance du Boundary Scan dans les Equipements de Test Automatique, (ETA) tels que Teradyne, Agilent, SEICA, etc..
DIASERVER
DiaServer est une station de test JTAG conçue pour être intégrée dans n’ importe quel équipement de test automatique (ETA), par exemple les testeurs « In-Circuit » (ICT), les testeurs fonctionnels ou a lit de clous. Le logiciel DiaServer peut être contrôlé via des programmes ou scripts de test écrits dans les différents langages tels TCL, C, C ++, LabView, VIVA etc.. Toutes les fonctions de test sont disponibles via la technologie COM / DCOM. L'utilisation de cette technologie est simple en utilisant les bibliothèques TCL & C / C ++ fournies avec DiaServer mais aussi toutes les applications Visual Basic (VBA). L'exécution des tests peut être entièrement automatisée à partir d'un système central qui contrôle plusieurs testeurs. Le système client envoie des requêtes au serveur Diatem qui les exécutent et retourne un résultat.
- interface de programmation COM / DCOM
- Langage et boîte de dialogue TCL
- Présence de toutes les fonctionnalités de test JTAG
- Diagnostic précis des défauts
- Intégration rapide et aisée
- Possibilité de programmation des mémoires flash
JTAG – Micro-Testeurs Embarqués (MTE) – émulation de micro-processeurs
• Augmentation de la couverture de test
• Réduction du temps de test global
• Diagnostic précis des défauts
• Intégration rapide et aisée
Ingénieurs de test, environnement de production
Vous pouvez remplir le formulaire de contact (mettre le lien) en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.
FLYSCAN
Station de test conçue pour être intégrée dans les équipements de test à sondes mobiles.
Débogage de cartes électroniques, déverminage, tests de production, tests de réparation.
La combinaison du JTAG et des sondes mobiles permet d’augmenter la couverture de test globale, de permettre de tester les zones non accessibles par des pointes de test (par exemple les boitiers BGA à haute densité) et offrir un diagnostic plus performant.
- Double interface graphique et /ou interface de programmation COM / DCOM
- Langage et boîte de dialogue TCL
- Présence de toutes les fonctionnalités de test JTAG
- Diagnostic précis des défauts
- Intégration rapide et aisée
- Possibilité de programmation des mémoires flash par JTAG
- Possibilité de programmation des mémoires flash par micro-testeurs embarqués
- Chargement des fichiers FPGA
JTAG – Micro – Testeurs Embarqués (MTE) pour FPGA
• Utilisation de toutes les fonctionnalités du test JTAG
• Augmentation de la couverture de test des sondes mobiles
• Réduction du temps de test global
• Diagnostic précis des défauts
• Intégration rapide et aisée
• Possibilité de faire de la programmation de mémoires FLASH
• Possibilité de charger les fichiers binaires pour FPGA
Ingénieurs de développement, ingénieurs de test, ingénieurs de production
Vous pouvez remplir le formulaire de contact (mettre le lien) en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.
FLYSCAN
AJOUTER LA PUISSANCE DU BOUNDARY SCAN A VOTRE TESTEUR A SONDES MOBILES
Les interfaces mécaniques couplées à la technologie boundary scan offre une solution intéressante pour augmenter la couverture et réduire les temps de test.
Nous prenons en charge votre problématique de test depuis la phase d’analyse de couverture de test jusqu’à la livraison de l’équipement sur votre site de production. Un suivi de projet est mis en place avec vos équipes de développement ce qui vous apporte une visibilité sur l’avancement des travaux.
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