TEST FONCTIONNEL DES COMPOSANTS

L'utilisation intensive des boitiers Ball Grid Array (BGA), 3D et la miniaturisation des géométries réduisent l'accès physique aux broches et aux points de test par les lits de clous traditionnels. Par ailleurs, l'utilisation de composants à haute vitesse comme l'introduction des mémoires dynamiques à double débit de données (DDR3/4) et l’augmentation des fréquences d’horloge demandent également une intégrité et une qualité de signal que ne peuvent plus assurer les lits de clous et testeurs traditionnels.

Engagé sur le débogage des cartes électroniques et des composants depuis plus de dix ans, Temento Systems a une longue expérience sur le développement d'instruments embarqués pour FPGA. Déclencheurs, analyseurs logiques et contrôleurs de bus ont été développés et sont disponibles depuis plusieurs années via notre outil de débogage pour FPGA "Dialite". Sur la base de ces acquis technologiques, nous avons ensuite transposé cette connaissance au niveau du test des cartes électroniques. Un Module SpeedScan, intégré dans DiaTem permet d’exécuter les tests fonctionnels dans le même environnement que celui utilisé pour l’exécution des tests JTAG structurels. La technologie SpeedScan offre aussi la possibilité d’incorporer ses propres instruments.

Très tôt, Temento Systems a introduit un nouveau concept appelé MTE pour Micro Testeur Embarqué. Cette technologie appelée "SpeedScan" (*) combine la technologie Boundary Scan et le concept d’instruments embarqués. Un MTE est un « moteur de test » téléchargé dans le FPGA de la carte sous test via le bus JTAG. Il est composé de plusieurs modules logiques capables d'exécuter des algorithmes de test à la vitesse de l’horloge de la carte. Lorsque le test est terminé, le résultat est transmis au contrôleur JTAG et remonté dans notre logiciel de test « Diatem ». Un catalogue d’une vingtaine de types de MTE est maintenant disponible.
(*) Technologie brevetée

Charger en temps réel un micro testeur dans le FPGA de votre carte vous apporte des capacités de test fonctionnel encore inégalées !

De la même manière que nous avons introduit les tests fonctionnels JTAG pour cartes électroniques à base de FPGA, nous avons développé le concept d’exécution des tests fonctionnels JTAG pour les cartes électroniques comportant des processeurs. Cette technologie appelée "EmulScan" est une façon nouvelle et innovante de faire du test fonctionnel de composants au niveau prototype ou en production. Intégré dans DiaTem le module EmulScan permet de gérer dans le même environnement tests JTAG structurels et tests JTAG fonctionnels. Les familles principales de processeurs CPU-MCU prises en charge sont: ARM7, ARM9, Cortex-M3, Coldfire V1 / V2 / V3 / V4, OMAP, XScale, Power PC etc .. En plus des tests fonctionnels JTAG, l'utilisateur peut exécuter des programmes d’application en C en mode pure émulation comme avec tous les autres environnements d'émulation classique.

Pour parvenir à ce résultat, nous avons combiné la technologie d'émulation de la société iSystems avec notre technologie JTAG – DiaTem. Profitant du bus JTAG de débogage embarqué dans les CPU-MCU, et après une initialisation des registres, un IP de test est téléchargé dans la mémoire du processeur et exécuté par celui-ci. Ainsi, le processeur va tester lui-même l’ensemble des composants périphériques de la carte et renvoyer au logiciel des informations sur le fonctionnement de ces composants.