Débogage de cartes électroniques, déverminage, mise en route prototypes, petites séries
DIATEM ENGINEERING
DiaTem est une station de test JTAG réservée aux ingénieurs de développement travaillant sur des prototypes et petites séries. L’ensemble des fonctions sont regroupées dans un seul environnement ce qui permet de naviguer facilement depuis la conception du programme de test vers le mode débogage sur carte. Après l’import des fichiers de conception, vous pouvez définir votre programme de test avec la définition des clusters pour les composants non boundary scan, la mise en œuvre des algorithmes de test automatiques ou la définition des composants à programmer. Dotée d’une interface conviviale, DiaTem permet en utilisant les avantages et le potentiel apportés par les standards JTAG IEEE 1149.1, d’obtenir en quelques heures un premier résultat du comportement structurel et fonctionnel de votre carte.
- Analyse de couverture de test
- Vérification des BSDL
- Tests d’infrastructure (intégrité de la chaîne JTAG)
- Génération automatique des vecteurs de test pour le test des interconnexions, des clusters et des mémoires
- débogueur interactif
- Possibilité de développer des tests individuels à l’aide du langage TCL
- Affichage des résultats sous forme de tableaux ou sous forme d’ondes
- Détection des pannes au niveau des broches ou sur les nets
- Archivage des pannes grâce à une base de données de défauts
- Contrôle et observation des signaux au niveau de la broche, des registres, du net
- Solution de programmation pour mémoire Flash et dispositifs logiques programmables (PLD)
- Programs embedded flash in Micros and DSPs
- Functional test of components
- Archivage des résultats de test
- Pilotage de plusieurs chaines JTAG et accès GPIO par le biais de notre contrôleur JTAG USB - TemTag
JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués
- Etude de la couverture de test dès la phase de schématique
- Développement rapide des séquences de test
- Pas de langage de programmation à apprendre
- Possibilité de faire du test fonctionnel de composants
- Possibilité d’initialiser et de piloter les processeurs du marché
- Possibilité de développer et appliquer des programmes applicatifs
- Possibilité de développer soi-même ses tests fonctionnels
Ingénieurs de développement, ingénieurs de test
Vous pouvez remplir le formulaire de contact (mettre le lien) en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.
DIATEM INDUSTRIALISATION
Test et débogage de cartes électroniques dans un contexte industriel avec génération de programmes de test.
Développement de programmes de test dans un contexte industriel et de production.
DiaTem industrialisation est une station de test JTAG qui s’adresse aux ingénieurs de fabrication qui souhaitent développer et générer leurs programmes de test dans un mode production. Cette station permet de préparer les opérations de test et de programmation à effectuer sur la carte. Un gestionnaire de programmes de test permet de définir graphiquement le séquencement des opérations de test et la génération d’un projet qui peut ensuite être exécuté soit par la station d’industrialisation elle-même, soit par une station Diatem production.
- Analyse de couverture de test
- Vérification des BSDL
- Tests d’infrastructure (intégrité de la chaîne JTAG)
- Génération automatique des vecteurs de test pour le test des interconnexions, des clusters et des mémoires
- débogueur interactif
- développement de tests fonctionnels de composants
- développement de tests individuels à l’aide du langage TCL
- Affichage des résultats sous forme de tableaux ou sous forme d’ondes
- Détection des pannes au niveau des broches ou sur les nets
- Archivage des pannes grâce à une base de données de défauts
- Contrôle et observation des signaux au niveau de la broche, des registres, du net
- Solution de programmation pour mémoire Flash et dispositifs logiques programmables (PLD)
- Gestionnaire graphique de plans de test
- Capacité de générer des projets de test et de les exporter
- Archivage des résultats de test
- Pilotage de plusieurs chaines JTAG et accès GPIO par le biais de notre contrôleur JTAG USB - TemTag
JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués
- Etude de la couverture de test dès la phase de schématique
- Développement rapide des séquences de test
- Pas de langage de programmation à apprendre
- Possibilité de faire du test fonctionnel de composants
- Possibilité d’initialiser et de piloter les processeurs du marché
- Possibilité de développer et appliquer des programmes applicatifs
- Possibilité de développer soi-même ses tests fonctionnels
Ingénieurs d’industrialisation, ingénieurs de test
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DIATEM PRODUCTION
Test de cartes électroniques en production.
Environnement de production, petites, moyennes et grandes séries.
DiaTem Production est une station de test JTAG conçue pour travailler dans un environnement de production pour le test de petites, moyennes et grandes séries. L’environnement de travail se compose d’une partie opérateur ou se réalise l’exécution du test de production et d’une partie superviseur utilisée pour personnaliser l’environnement de production, le choix des formats de sorties, les modes d’archivages ou encore les programmes de test à exécuter. Cette station de production existe aussi en mode client – serveur avec une API pour être intégrée dans un autre équipement de production.
- Inclut toutes les caractéristiques nécessaires pour permettre l'exécution d'un plan de test fournie par une station industrialisation.
- test de l'intégrité de la chaîne JTAG
- Vérification des codes d'identification des composants
- Test de tous les types d'interconnexion (ATPG)
- Exécution des séquences de tests fonctionnels
- Chargement des binaires FPGA et CPLD
- Programmation des mémoires Flash en mode rapide
-Edition d’un ticket de défaut
- Lecteur de code-barres
- Possibilité d’export des rapports de défauts
- Possibilité de faire du test parallèle pour des volumes importants de production (mode Templayer)
- Interface opérateur
- Mode superviseur avec panneau de configuration de la station
JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués
- Personnalisation de la station en mode superviseur
- Réaliser les opérations de test de production en mode opérateur
- Exécuter les plans de test précédemment générés
- Fournir les rapports d'exécution et les tickets de défauts
- Fonctions de traitement statistiques et d’export
Opérateurs de production, superviseurs, ingénieurs de production
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Tests sur le cycle de vie
TOUT-EN-UN
Que ce soit pour déboguer un prototype ou exécuter des tests de production sur plusieurs milliers de cartes, Diatem Studio offre un large éventail de configurations adaptées à vos besoins.
FACILITE D’UTILISATION
Basé sur les standards 1149.X et la technologie JTAG, DiaTem Studio offre un environnement de débogage puissant et une couverture de test importante.
EVOLUTIF
Capacité simple de faire évoluer la station d’une configuration à une autre.
TEST FONCTIONNEL
DES COMPOSANTS
Maîtrisant l’instrumentation embarquée, DiaTem permet le test fonctionnel des composants avec le support des processeurs ARM, FreeScale, TI et autres CPUs, ainsi que les FPGA de type Xilinx et Altera
LE COIN
DES STANDARDS
Toutes les informations dont vous avez besoin sur les standards 1149.X